Politechnika Warszawska - Centralny System Uwierzytelniania
Strona główna

Komputerowe sterowanie i przetwarzanie danych

Informacje ogólne

Kod przedmiotu: 103A-ETRTM-IWP-KSTM
Kod Erasmus / ISCED: (brak danych) / (brak danych)
Nazwa przedmiotu: Komputerowe sterowanie i przetwarzanie danych
Jednostka: Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych
Grupy: ( Techniki informacyjne )-Radiokomunikacja i techniki multimedialne-inż. wi.-EITI
Punkty ECTS i inne: 5.00 Podstawowe informacje o zasadach przyporządkowania punktów ECTS:
  • roczny wymiar godzinowy nakładu pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się dla danego etapu studiów wynosi 1500-1800 h, co odpowiada 60 ECTS;
  • tygodniowy wymiar godzinowy nakładu pracy studenta wynosi 45 h;
  • 1 punkt ECTS odpowiada 25-30 godzinom pracy studenta potrzebnej do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się;
  • tygodniowy nakład pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się pozwala uzyskać 1,5 ECTS;
  • nakład pracy potrzebny do zaliczenia przedmiotu, któremu przypisano 3 ECTS, stanowi 10% semestralnego obciążenia studenta.
Język prowadzenia: polski
Jednostka decyzyjna:

103000 - Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych

Kod wydziałowy:

KSTM

Numer wersji:

1

Skrócony opis:

Przedmiot opiera się na systemowym ujęciu pomiarów, polegającym na jednorodnym traktowaniu wszystkich środków pomiaru (np. czujników inteligentnych, kart pomiarowych, systemów modułowych, systemów "klasycznych") jako szczególnych przypadków systemu realizującego swoją funkcję w procesie przetwarzania sygnałów. Przedstawia szeroką wiedzę o organizacji i sterowaniu komputerowych systemów pomiarowo-sterujących (sygnały i magistrale systemu, bloki funkcjonalne, konfiguracje, metody transmisji danych, zasady wymiany informacji) oraz główne standardy interfejsów (IEC-625.1, IEC-625.2, VXI) Omawia nowoczesne oprogramowanie realizujące sterowanie systemami i przetwarzanie danych pomiarowych (LabWindows, LabView, HP VEE). Wskazuje na powiązania między częścią sprzętową i programową systemu.

Pełny opis:

Przedmiot opiera się na systemowym ujęciu pomiarów, polegającym na jednorodnym traktowaniu wszystkich środków pomiaru (np. czujników inteligentnych, kart pomiarowych, systemów modułowych, systemów "klasycznych") jako szczególnych przypadków systemu realizującego swoją funkcję w procesie przetwarzania sygnałów. Przedstawia szeroką wiedzę o organizacji i sterowaniu komputerowych systemów pomiarowo-sterujących (sygnały i magistrale systemu, bloki funkcjonalne, konfiguracje, metody transmisji danych, zasady wymiany informacji) oraz główne standardy interfejsów (IEC-625.1, IEC-625.2, VXI) Omawia nowoczesne oprogramowanie realizujące sterowanie systemami i przetwarzanie danych pomiarowych (LabWindows, LabView, HP VEE). Wskazuje na powiązania między częścią sprzętową i programową systemu.


Treść wykładu

  1. Wprowadzenie (2h).
    Pojęcia podstawowe. Model toru pomiarowego oparty na pojęciu przetwarzania sygnałów. Klasyfikacja sygnałów i systemów. Sposoby przesyłania informacji w systemach.


  2. Schemat funkcjonalny systemu pomiarowo-sterującego (2h).

    Pojęcie bloku funkcjonalnego systemu. Typowe bloki funkcjonalne systemu. Dekompozycja zadania sterowania (funkcje elementarne, wielopoziomowość dekompozycji, hierarchiczność sterowania). Synteza zadania (specyficzne problemy: łączenie bloków funkcjonalnych, organizacja i komunikacja w systemie). Konfiguracje systemów pomiarowo-sterujących.

  3. Magistrala systemu pomiarowo-sterującego (4h).

    Rodzaje szyn (szyny adresowe, danych, lokalne, analogowe, synchronizacji, sterujące, identyfikacji przerwań, impulsów zegarowych, impulsów wyzwalania, zasilania, pomocnicze i inne). Specyfika magistrali pomiarowej. Protokoły transmisji danych stosowane w systemach pomiarowo-sterujących. Pojęcie interfejsu systemu pomiarowo-sterującego. Rodzaje interfejsów. Typowe standardy interfejsów.



  4. Standard IEC-625 (9h)

    Podstawowe dane techniczne standardu IEC-625.1. Struktura i organizacja magistrali systemu. Szyny i sygnały. Cykl transmisji informacji. Typowe sekwencje podstawowych operacji sterowania pracą systemu. Przykład typowego systemu pomiarowo-sterującego w standardzie IEC-625. Standard IEC-625.2 jako rozszerzenie standardu IEC-625.1.


  5. Przyrządy wirtualne (2h)

    Definicje, modele, cechy i właściwości przyrządów wirtualnych. Przyrząd wirtualny a system pomiarowo-kontrolny.


  6. Oprogramowanie systemów pomiarowo-sterujących 9h).
    Struktura oprogramowania. Miejsce oprogramowania sterowania systemem i przetwarzania danych w systemie operacyjnym komputera. Języki programowania systemów pomiarowo-sterujących. Specyfika instrukcji sterujących pracą systemu. Opis przykładowych rozszerzeń języków wysokiego poziomu zorientowane na systemy pomiarowo-sterujące. Przykłady języków specjalizowanych. Standard SCPI. Zintegrowane środowiska programowe jako firmowe narzędzia projektowania i obsługi systemów pomiarowo-sterujących (m.in. LabWindows/CVI LabView, VEE). Biblioteki przetwarzania danych w zintegrowanych środowiskach programowych. Przykłady oprogramowania systemów pomiarowo-sterujących.


  7. Rozproszone systemy pomiarowo-sterujące (2h)




  8. Zakres laboratorium
    1. Symulacja systemu pomiarowego w standardzie IEC-625 (3h).

    2. Konfigurowanie, oprogramowanie i uruchamianie prostego systemu pomiarowo-sterującego w standardzie IEC-625 z wykorzystaniem środowiska LabWindows/CVI (3h).


    3. Konfigurowanie, oprogramowanie i uruchamianie prostego systemu pomiarowo-sterującego w standardzie IEC-625 z wykorzystaniem środowiska VEE

Literatura:

    Literatura podstawowa:

    1. Winiecki W.: Organizacja komputerowych systemów pomiarowych, OW PW, 1997


    Literatura uzupełniająca:

    1. Mielczarek W.: "Urządzenia pomiarowe i systemy kompatybilne ze standardem SCPI", Helion, 1999

    2. Mielczarek W.: "Szeregowe interfejsy cyfrowe", Helion, 1994

    3. System interfejsu dla programowanej aparatury pomiarowej. PN-83/T-06536

    4. J. Jaworski, R. Morawski, J. Olędzki, "Wstęp do metrologii i techniki eksperymentu", WNT, Warszawa 1992.

    5. Sydenham P.H.: Podstawy metrologii. WKiŁ, t.1 - 1988, t.2 - 1990

    6. J. Barzykowski (red.) "Współczesna metrologia", WNT 2004, 576 s., (ISBN 83-204-2888-2)

Zajęcia w cyklu "rok akademicki 2018/2019 - sem. zimowy" (zakończony)

Okres: 2018-10-01 - 2019-02-17
Wybrany podział planu:
Przejdź do planu
Typ zajęć:
Laboratorium, 15 godzin więcej informacji
Wykład, 30 godzin więcej informacji
Koordynatorzy: Wiesław Winiecki
Prowadzący grup: Wiesław Winiecki
Lista studentów: (nie masz dostępu)
Zaliczenie: Egzamin
Jednostka realizująca:

103400 - Instytut Radioelektroniki i Technik Multimedialnych

Opisy przedmiotów w USOS i USOSweb są chronione prawem autorskim.
Właścicielem praw autorskich jest Politechnika Warszawska.
pl. Politechniki 1, 00-661 Warszawa tel: (22) 234 7211 https://pw.edu.pl kontakt deklaracja dostępności USOSweb 7.0.0.0-7 (2024-03-18)