Politechnika Warszawska - Centralny System Uwierzytelniania
Strona główna

Oprogramowanie systemów pomiarowych

Informacje ogólne

Kod przedmiotu: 103B-ELEIK-ISP-OSP
Kod Erasmus / ISCED: (brak danych) / (brak danych)
Nazwa przedmiotu: Oprogramowanie systemów pomiarowych
Jednostka: Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych
Grupy: ( Przedmioty obieralne )-Elektronika i inżynieria komputerowa-inż.-EITI
( Przedmioty podstawowe )-Mikrosystemy i systemy elektroniczne-mgr.-EITI
( Przedmioty techniczne )---EITI
Punkty ECTS i inne: (brak) Podstawowe informacje o zasadach przyporządkowania punktów ECTS:
  • roczny wymiar godzinowy nakładu pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się dla danego etapu studiów wynosi 1500-1800 h, co odpowiada 60 ECTS;
  • tygodniowy wymiar godzinowy nakładu pracy studenta wynosi 45 h;
  • 1 punkt ECTS odpowiada 25-30 godzinom pracy studenta potrzebnej do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się;
  • tygodniowy nakład pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się pozwala uzyskać 1,5 ECTS;
  • nakład pracy potrzebny do zaliczenia przedmiotu, któremu przypisano 3 ECTS, stanowi 10% semestralnego obciążenia studenta.

zobacz reguły punktacji
Język prowadzenia: polski
Jednostka decyzyjna:

103000 - Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych

Kod wydziałowy:

OSP

Numer wersji:

2

Pełny opis:



Treść wykładu

  • Standaryzacja instrukcji sterujących w systemach pomiarowych -
    standard SCPI (Standard Commands for Programmable Instruments):
    koncepcja standardu SCPI (struktura instrukcji, rodzale i opis poleceń,
    parametry poleceń, formaty danych), struktura "programowa" urządzenia
    programowanego w SCPI, przykłady konstruowania programów. (13h)

  • Zintegrowane środowiska programowe: Koncepcja i opis właściwości
    zintegrowanych środowisk pomiarowych, szczegółowy opis środowiska
    LabVIEW, metody konstruowania sterowników i paneli ("płyt czołowych")
    urządzeń pomiarowych, projektowanie oprogramowania użytkowego z
    wykorzystaniem narzędzi komputerowego wspomagania. (13h)

  • Tendencje rozwojowe oprogramowania systemów pomiarowych. (2h)



Zakres projektu
Projekty dotyczą realizacji programów sterujących urządzeniami pomiarowymi (z interfejsami IEC-625 i VXI) z wykorzystaniem typowego oprogramowania (język C, środowiska programowe LabVIEW, LabWindows i Agilent VEE).

Literatura:

    1. W. Winiecki: "Organizacja komputerowych systemów pomiarowych",
      OWPW 2006

    2. W. Mielczarek: "Urządzenia pomiarowe i systemy kompatybilne ze
      standardem SCPI". Helion 1999

    3. B. Eppler: "A Beginers Guide to SCPI". Addison-Wesley 1991

    4. W. Winiecki, J. Nowak, S. Stanik: "Graficzne zintegrowane
      środowiska programowe". MIKOM 2001

    5. W. Tłaczała: "Środowisko LabVIEW w eksperymencie wspomaganym
      komputerowo". WNT 2002

    6. M. Chruściel:"LabVIEW w praktyce". BTC 2008

    7. D. Świsulski:"Komputerowa technika pomiarowa. Oprogramowanie
      wirtualnych przyrządów pomiarowych w LabVIEW", Agenda wydawnicza PAK-u,
      Warszawa 2005

    8. "Standard Commands for Programmable Instruments (SCPI)". SCPI
      Consortium 1999, http://www.ivifoundation.org/specifications/

    9. Opisy firmowe języków HPBasic, NIBasic, NI C oraz środowisk
      programowych LabWindows, LabView (NI), VEE (Agilent)

Przedmiot nie jest oferowany w żadnym z aktualnych cykli dydaktycznych.
Opisy przedmiotów w USOS i USOSweb są chronione prawem autorskim.
Właścicielem praw autorskich jest Politechnika Warszawska.
pl. Politechniki 1, 00-661 Warszawa tel: (22) 234 7211 https://pw.edu.pl kontakt deklaracja dostępności USOSweb 7.0.2.0-2 (2024-03-29)