Kod przedmiotu: |
103B-ELEIK-ISP-OSP |
Kod Erasmus / ISCED: |
(brak danych)
/
(brak danych)
|
Nazwa przedmiotu: |
Oprogramowanie systemów pomiarowych |
Jednostka: |
Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych |
Grupy: |
( Przedmioty obieralne )-Elektronika i inżynieria komputerowa-inż.-EITI
( Przedmioty podstawowe )-Mikrosystemy i systemy elektroniczne-mgr.-EITI
( Przedmioty techniczne )---EITI
|
Punkty ECTS i inne: |
(brak)
Podstawowe informacje o zasadach przyporządkowania punktów ECTS: - roczny wymiar godzinowy nakładu pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się dla danego etapu studiów wynosi 1500-1800 h, co odpowiada 60 ECTS;
- tygodniowy wymiar godzinowy nakładu pracy studenta wynosi 45 h;
- 1 punkt ECTS odpowiada 25-30 godzinom pracy studenta potrzebnej do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się;
- tygodniowy nakład pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się pozwala uzyskać 1,5 ECTS;
- nakład pracy potrzebny do zaliczenia przedmiotu, któremu przypisano 3 ECTS, stanowi 10% semestralnego obciążenia studenta.
zobacz reguły punktacji
|
Język prowadzenia: |
polski
|
Jednostka decyzyjna: |
103000 - Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych
|
Kod wydziałowy: |
OSP
|
Numer wersji: |
2
|
Pełny opis: |
Treść wykładu
- Standaryzacja instrukcji sterujących w systemach pomiarowych -
standard SCPI (Standard Commands for Programmable Instruments): koncepcja standardu SCPI (struktura instrukcji, rodzale i opis poleceń, parametry poleceń, formaty danych), struktura "programowa" urządzenia programowanego w SCPI, przykłady konstruowania programów. (13h)
- Zintegrowane środowiska programowe: Koncepcja i opis właściwości
zintegrowanych środowisk pomiarowych, szczegółowy opis środowiska LabVIEW, metody konstruowania sterowników i paneli ("płyt czołowych") urządzeń pomiarowych, projektowanie oprogramowania użytkowego z wykorzystaniem narzędzi komputerowego wspomagania. (13h)
- Tendencje rozwojowe oprogramowania systemów pomiarowych. (2h)
Zakres projektu Projekty dotyczą realizacji programów sterujących urządzeniami pomiarowymi (z interfejsami IEC-625 i VXI) z wykorzystaniem typowego oprogramowania (język C, środowiska programowe LabVIEW, LabWindows i Agilent VEE).
|
Literatura: |
- W. Winiecki: "Organizacja komputerowych systemów pomiarowych",
OWPW 2006
- W. Mielczarek: "Urządzenia pomiarowe i systemy kompatybilne ze
standardem SCPI". Helion 1999
- B. Eppler: "A Beginers Guide to SCPI". Addison-Wesley 1991
- W. Winiecki, J. Nowak, S. Stanik: "Graficzne zintegrowane
środowiska programowe". MIKOM 2001
- W. Tłaczała: "Środowisko LabVIEW w eksperymencie wspomaganym
komputerowo". WNT 2002
- M. Chruściel:"LabVIEW w praktyce". BTC 2008
- D. Świsulski:"Komputerowa technika pomiarowa. Oprogramowanie
wirtualnych przyrządów pomiarowych w LabVIEW", Agenda wydawnicza PAK-u, Warszawa 2005
- "Standard Commands for Programmable Instruments (SCPI)". SCPI
Consortium 1999, http://www.ivifoundation.org/specifications/
- Opisy firmowe języków HPBasic, NIBasic, NI C oraz środowisk
programowych LabWindows, LabView (NI), VEE (Agilent)
|