Kod przedmiotu: |
103B-IBxxx-ISP-ME |
Kod Erasmus / ISCED: |
(brak danych)
/
(brak danych)
|
Nazwa przedmiotu: |
Metrologia |
Jednostka: |
Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych |
Grupy: |
( Elektrotechnika, elektronika i automatyka )-Inżynieria biomedyczna-inż.-EITI
( Przedmioty techniczne )---EITI
|
Punkty ECTS i inne: |
(brak)
Podstawowe informacje o zasadach przyporządkowania punktów ECTS: - roczny wymiar godzinowy nakładu pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się dla danego etapu studiów wynosi 1500-1800 h, co odpowiada 60 ECTS;
- tygodniowy wymiar godzinowy nakładu pracy studenta wynosi 45 h;
- 1 punkt ECTS odpowiada 25-30 godzinom pracy studenta potrzebnej do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się;
- tygodniowy nakład pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się pozwala uzyskać 1,5 ECTS;
- nakład pracy potrzebny do zaliczenia przedmiotu, któremu przypisano 3 ECTS, stanowi 10% semestralnego obciążenia studenta.
zobacz reguły punktacji
|
Język prowadzenia: |
polski
|
Jednostka decyzyjna: |
103000 - Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych 114000 - Wydział Mechatroniki
|
Kod wydziałowy: |
ME
|
Numer wersji: |
2
|
Skrócony opis: |
Definicja pomiaru. Pojęcia podstawowe: wielkość, wartość, jednostka miary, skale pomiarowe, metody pomiarowe. Wynik pomiaru, błąd, niepewność, poprawka. Zasady działania i właściwości narzędzi pomiarowych (wzorce, przyrządy, przetworniki, czujniki, rejestratory). Oscyloskopy. Pomiar prądu, napięcia, mocy, częstotliwości, przesunięcia fazowego, rezystancji, impedancji. Pomiar wielkości nieelektrycznych metodami elektrycznymi. Podstawy metrologii warstwowej. Celem przedmiotu jest przygotowanie studentów do pracy laboratoryjnej oraz wprowadzenie w technikę eksperymentu. W czasie wykładu prezentowane są podstawowe techniki pomiarowe, omawiane przyczyny powstawania błędów oraz metody ich analizy i zmniejszania. W laboratorium student samodzielnie wykonuje ćwiczenia w zakresie podstawowych eksperymentów metrologicznych w dziedzinie pomiarów parametrów sygnałów i elementów.
|
Pełny opis: |
Definicja pomiaru. Pojęcia podstawowe: wielkość, wartość, jednostka miary, skale pomiarowe, metody pomiarowe. Wynik pomiaru, błąd, niepewność, poprawka. Zasady działania i właściwości narzędzi pomiarowych (wzorce, przyrządy, przetworniki, czujniki, rejestratory). Oscyloskopy. Pomiar prądu, napięcia, mocy, częstotliwości, przesunięcia fazowego, rezystancji, impedancji. Pomiar wielkości nieelektrycznych metodami elektrycznymi. Podstawy metrologii warstwowej. Celem przedmiotu jest przygotowanie studentów do pracy laboratoryjnej oraz wprowadzenie w technikę eksperymentu. W czasie wykładu prezentowane są podstawowe techniki pomiarowe, omawiane przyczyny powstawania błędów oraz metody ich analizy i zmniejszania. W laboratorium student samodzielnie wykonuje ćwiczenia w zakresie podstawowych eksperymentów metrologicznych w dziedzinie pomiarów parametrów sygnałów i elementów.
Treść wykładu
- Pojęcia podstawowe - Pomiar i obserwacja bezpośrednia (definicja pomiaru). Wielkość metrologiczna, wartość, jednostka miary, skala pomiarowa, metoda pomiaru. Pomiary bezpośrednie i pośrednie. Zasady dokumentacji pomiarów. (4h)
- Pojęcie błędu pomiarowego - Definicja błędu i wynik pomiaru. Klasyfikacja błędów (niepewność i niepoprawność pomiaru ? pojęcie poprawki). Błędy w pomiarach bezpośrednich i pośrednich (podstawy rachunku błędów). Błędy przypadkowe (estymacja parametryczna). (6h)
- Wprowadzenie w elektrotechnikę - Obwody prądu stałego. charakterystyki sygnałów pomiarowych (przetwarzanie analogowo-cyfrowe). Metoda symboliczna i pojęcie impedancji. (5h)
- Narzędzia pomiarowe - Źródła sygnałów (zasilacze i generatory). Wzorce. Przyrządy pomiarowe (multimetr, częstościomierz). Oscyloskop elektroniczny. Rejestratory sygnałów (6h)
- Pomiary i metody pomiarowe - Pomiary napięć i prądów stałych. Pomiary rezystancji (metody pomiarowe). Pomiary napięć zmiennych. Pomiary częstotliwości, czasu i przesunięcia fazowego. Pomiary impedancji (7h)
- Pomiary wielkości nieelektrycznych i metrologia warstwowa. Czujnik pomiarowy i przykłady pomiaru wybranych wielkości nieelektrycznych (2h)
Przedmioty podobne
|
Literatura: |
- Dusza J., Gortat G., Leśniewski A.,: Podstawy Miernictwa, WPW, Warszawa, 2002
- Urban A.: Podstawy Miernictwa, cz1. WPW, Warszawa, 1991
- Jędrzejewski K. (red): Laboratorium Podstaw Pomiarów, WPW, Warszawa, 2007
- Osiowski J., Szabatin J.: Podstawy Teorii Obwodów, WNT, Warszawa, 1998
- Materiały ogłaszane przez wykładowców w Internecie
|